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導致便攜式探傷儀靈敏度低的原因有哪些?
點擊次數:190 發布時間:2021-03-16

  今天我給大家講講便攜式探傷儀靈敏度低的原因:

  主要原因:

  1.發射電路部分 1).電源電壓E過低 2).閘流管或可控硅導電時,內阻太大。 3).觸發波重復頻率太高或閘流管的負載電阻R太大,使發射電路中電容C不能充電至電源電壓E。 4).電容C漏電 5).諧振式發射電路中,諧振頻率與探頭的自然頻率偏離太大。

  2.接收電路部分 1).電子管或晶體管衰老。2).電子管或晶體管工作點(偏流或偏壓)不在*佳點。 3).電源電壓低(濾波電容漏電) 4).調諧回路調亂,放大頻率與發射頻率不一致。

  3.便攜式探傷儀探頭部分 1).晶片的靈敏度低(發射及接收的靈敏度的乘積低)。 2).晶片的自然頻率與發射頻率或放大頻率不一致。3).晶片的銀層脫落 4).保護膜片磨損。 5).保護膜片與晶片之間的油層流失(有的探頭保護膜與晶片直接粘合)。 6).吸收塊阻尼太大。 7).晶片的阻抗與探頭引線的阻抗不匹配(如用低阻抗的電纜線連接高阻抗的石英晶片)。 8).探頭在超過其居里溫度的高溫工作物上探測效率低。 9).探頭線及插座頭接觸不佳。

  4.示波管部分 1).偏轉靈敏度低。 2).加速極電壓過高。

  檢查方法:

  1.檢查發射電路 1).用萬用表測量超聲波測厚儀電源電壓是否過低 2).用萬用表測量閘流管(可控硅)的屏(陽)極電壓的平均值是否偏高或偏低 3).檢查電容C是否漏電 4).用脈沖示波器(或用外差式波長計)測量發射波的頻率是否符合。用試塊檢查時,將探頭放在試塊上,是熒光屏上有反射波,調整發射電路中線圈L的鐵心,是反射波*高

  2.檢查接收電路 1).測量各級電壓是否正常。 2).檢查調諧頻率及放大倍數,有以下幾種方法:(1)將高頻信號發生器的輸出端接在接收電路的輸入端,將電壓表接在檢波電路的輸出端,改變高頻信號發生器的頻率(輸出電壓不變),記下電壓表的數值。電壓*大時的頻率應與發射頻率符合,并記下放大倍數。如頻率偏離過大,則需調整探傷儀各級線圈。 (2)將探頭放在試塊上,使熒光屏上有反射波,用示波器觀察各級屏極(或集電極)的波形是否上等比上等大(從前級往后級),如有上等波形不夠大,說明該級有問題。 (3)放大電路如系單調諧,將探頭放在試塊上,調各級線圈的鐵心,使反射波*高。 3).檢查電子或晶體管是否衰老。 4).調整工作點(電子管的陰極電阻、晶體管的射極電阻及基極分壓電阻)。5.檢查調諧線圈是否霉斷。

  3.檢查探頭部分 1).首先用良好的探頭探測,如探傷儀靈敏度提高了,說明原探頭有問題,需換新。 2).如晶片退化,可重新電極化,有的儀器有極化插座,將探頭插在插座上,開機通電十分鐘即可。如無極化插座,在探傷儀內部示波管的高壓回路中,引出適當電壓即可。鈦酸鋇的極化電壓為每毫米2000伏,鋯鈦酸鉛為每毫米4000伏。晶片初次極化時,將晶片夾在夾具中,并侵入盛有變壓器油的容器中,并將容器放在電爐上,加溫至居里溫度(鈦酸鋇120℃,鋯鈦酸鉛300℃)后接通電壓,20分鐘后切斷電爐電源,使變壓器油自然冷卻至室溫時,將高壓關掉即可。 3).晶片的壓電性能可用簡單的方法檢查,即用高靈敏度的電子管電壓表檢查,將地線一端壓在晶片的一端,將表棒稍用力壓晶片的另一端,看電壓表指針的偏轉是否大,如不偏轉或偏轉甚小,則壓電性能不好。

  4.檢查示波管部分 1).檢查示波管的偏轉靈敏度 將電壓表跨接于垂直偏轉板,正表棒接示波管的第7腳,負表棒接第8腳,開機后記下掃描線在熒光屏上的位置,并記下電壓表的數值,然后調節儀器面板上的垂直位移電位器W,使掃描線向上,移動A毫米,若此時電壓表指示電壓的變化為B伏特,則偏轉靈敏度=A/B 毫米/伏 正常偏轉靈敏度為0.35~0.54毫米/伏,若所得之值比正常值小的多,則應換新管。 2).檢查加速極電壓 示波管的偏轉靈敏度與加速極電壓成反比,若加速極電壓過高,應減低之。

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